产品系列 | WaveMaster® IOL R&D |
可测量参数 | 屈光度、EFL、MTF、PSF、角膜散光度(柱镜度)、低阶和高阶像差 |
EFL测量精度 | 0.1%…0.3% |
屈光度测量范围 |
直接测量时:空气中:>+4 D, <-10 D、模拟眼中:> +10 D, <-30 D 扩展测量时:空气中:<+3 D, >-3 D、模拟眼中:<+1D, >-1D 使用模拟角膜时:模拟眼中:没有限制 |
屈光度测量精度 | 0.1%…0.3% |
MTF测量精度 | +/-0.02 MTF |
测量时间 | 5秒/颗 |
测量波长 | 532nm |
特点 | 运用泽尼克多项式分析波前,可测量球差、慧差、像散等 |