单通道波前传感器

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压电纳米旋转台

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光纤专用位移台
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GA 4/3"千万像素级定焦镜头

2/3" 200万像素级定焦镜头

2/3" F2.0 5M定焦镜头

1/1.8" F2.8 6M定焦镜头

1.1" F2.8 12M定焦镜头

1" 500万像素级定焦镜头

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UHF-AWG 任意波形发生器

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单通道波前传感器

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离轴波前测量仪

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自动波前测量仪

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1064nm 80MHz 声光Q开关

声光Q开关驱动器

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BBO 电光Q 开关（BBO 普克尔盒）

掺氧化镁铌酸锂(MgO-LN)电光Q开关

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InGaAs相机

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GU OPTICS光电自准直仪

ARGOS 表面疵病检测仪

光学非接触式测厚仪

光学镜头测试系统

Inframet光电成像测试系统

OptiSurf®镜面定位仪

Tsubosaka成像系统测试

光学器件性能检测仪器

OptiCentric®中心偏差测量仪

定心车

MTF测量仪

ProCam®相机模组检测装调系统

电子自准直仪

测角仪

波前测量仪

μPhase®干涉仪

焦距仪与球径仪

AspheroMaster®形貌检测

透射式中心偏差检查仪

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微型光纤光谱仪

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美国SEI地物光谱仪

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单通道波前传感器

光波在介质中传播时，光波同一时刻相位相同的所有点集合构成的面将其称为波前。Shack-Hartmann夏特哈克曼波前传感器原理是通过微透镜阵列和放置在其焦平面的CCD，平行入射的光束经过每一个微透镜汇聚到CCD上，CCD上接收对应的聚焦点。理想的平面波经过微透镜后成像的位置作为对应的零点，畸变的波前聚焦成像点与零点的偏差可计算出波前的局部斜率。从这个信息中，可以实时测量光强分布、波前像差、OTF 、 MTF 以及其它参数。

产品特点

激光和光学元件的传输（单程）计量；
宽波长范围（UV、Vis、SWIR、MWIR 和 LWIR）；
高重复性 (λ/1000) 和准确度 (λ/60)；
小巧轻便；
用于 Shack-Hartmann 图像采集和分析的Senssoft 软件；
用于测试不同光束尺寸的多种附件；
由用户现场进行校准以实现高精度；

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单通道波前传感器

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OMI-S-UV-HR

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OMI-S-SWIR

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OMI-S-SWIR-HR

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OMI-S-MWIR

单通道波前传感器 OMI-S-MWIR

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OMI-S-LWIR

单通道波前传感器 OMI-S-LWIR

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不同型号的OMI
特性	UV	VIS	SWIR	MWIR	LWIR
波长（μm）	0.193-1.1	0.38-1.05	0.9-1.7	1.5-5.4	8-14
探测器	CCD	CMOSis	InGaAs	InSb	uBolometer
分辨率（点阵）	75×75	45×45	35×35	35×35	35×35
测量速度(Hz)	7.5	90	高达344	350	25
软件功能	Zernikes/WF/MTF/PSF/诊断/对准

编号	波长范围(μm)	取样(S)	Lenslet(d, fl)(mm)	测速相机/环路（Hz）
OMI-S	0.4-1.06	37×37 45×45 75×75	0.3，41 0.2，(7，11，22) 0.15，7	90/25
OMI-S-HR （高分辨率）	0.3-1.06	55×55 80×80 110×110	0.3，41 0.2，(7，11，22) 0.15，7	15/12
OMI-S-HS （高速）	0.4-1.1	18×18 24×24	0.2，(7，11，22) 0.15，7	500/100
OMI-S-COOLED （冷却）	0.35-1.06	45×45 65×65 90×90	0.3，41 0.2，(7，11，22) 0.15，7	1/1
OMI-DUV （冷却）	0.12-1.1	32×32	0.2，22	31/31
OMI-S-UV-HR （UV、Vis 和 NIR、高分辨率）	0.266-1.1	50×50 70×70	0.2，(7，11，22) 0.15，7	75/30
OMI-S-SWIR	0.9-1.8	38×38	0.2，(7，11)	100/50
OMI-S-SWIR-HR （高分辨率）	0.9-1.8	60×60	0.2，(7，11)	100/50
OMI-S-MWIR	1.5 – 6	35×35	0.2，(7，11)	100/50
OMI-S-LWIR	8-14	35×35	0.5，4	25/25

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