产品编号 | 750117 |
测量项目 | 波前质量,泽尼克系数等 |
测量波长 | 532nm(其它要求可定制) |
波前传感器 | WaveSensor® 150(编号:750110) |
阵列透镜数量 | 138×138 |
波前测量精度 | 优于<λ/20(RMS) |
波前测量重复性 | 优于<λ/200(RMS) |
动态范围 | 2000λ |
数值孔径 | 0.55(其它要求可定制) |
被测样品直径 | 最大96mm(按客户要求定制) |
被测样品焦距 | 按客户要求定制 |
WaveMaster波前测量仪主要用来测量大型双远心镜头的全场波前,还可给出被测样品的面型(PV和RMS),泽尼克系数(Zernike),点扩散函数(PSF),调制传递函数,斯特列尔比,楔角。同时,该产品也可用于人工晶体在空气中或原位中的检测,晶体低阶和高阶的相差,晶体的调制传递函数(MTF),晶体的点扩散函数(PSF),晶体屈光度和像差。软件具有多种模块功能,简单易用,用户可根据需要进行选择。
WaveMaster® LAB Horizontal是一款非常适合在实验室里应用的仪器。它作为一个实验装置台,使用灵活,可使不同的光学结构放置在同一水平方向测量。它可提供透射式无限轭或有限轭模式进行测量,适用于口径较大的样品。
应用范围:
- 适用于实验室内大口径精密镜头或镜片的波前测量。