WaveSensor®80 波前传感器

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产品编号 750112
产品型号 WaveSensor®80
孔径尺寸 6.6mmx8.8 mm
阵列透镜数 60 x 80
动态范围 > 1000 λ
倾斜测量灵敏度 < 1μrad
绝对精度(RMS) < λ/20
重复性(RMS) < λ/200
波长 405-1100nm(可扩展至350nm)
接口类型 IEEE1394B
产品尺寸 74 mm×100 mm×144 mm
产品重量 800 g
WaveSensor®系列产品是应用哈特曼—夏克传感器的测量原理研制而成的,并配备专门的操作与分析软件,可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检验、介质扰动对光束质量影响的测量、大型球面镜镜面面形精度的检测等。利用WaveSensor®可获得丰富的光束质量及空间、时间信息,是深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段,因此WaveSensor®已成为检测各类大型反射镜面形的一种专用设备。

应用范围:

  • 常规光学元件面形检测(平面、球面、透镜等)          
  • 大口径光学元件检测
  • 光学系统像差检测
  • 激光器输出波面检测
  • 光束质量诊断
  • 光束动态变化测量
  • 自适应系统的波前探测

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