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| 产品编号 | 750111 |
| 产品型号 | WaveSensor®150带反射模块 |
| 孔径尺寸 | 15mm×15mm |
| 阵列透镜数 | 138×138 |
| 动态范围 | 2000 λ |
| 测量频率 | 12Hz |
| 绝对精度(RMS) | 0.05μm |
| 重复性(RMS) | 0.005μm |
| 波长 | 405-1100nm |
WaveSensor®系列产品是应用哈特曼—夏克传感器的测量原理研制而成的，并配备专门的操作与分析软件，可用于激光光束质量及其动态变化的诊断、光学系统像质的检验、介质扰动对光束质量影响的测量、大型球面镜镜面面形精度的检测等。利用WaveSensor®可获得丰富的光束质量及空间、时间信息，是深入研究激光光束和光学系统质量及其动态变化过程、分析影响因素的有力手段，因此WaveSensor®已成为检测各类大型反射镜面形的一种专用设备。
应用范围：
- 常规光学元件面形检测（平面、球面、透镜等）
- 大口径光学元件检测
- 光学系统像差检测
- 激光器输出波面检测
- 光束质量诊断
- 光束动态变化测量
- 自适应系统的波前探测
