- 被测样品直径 3...35mm
- 有效通光孔径 30mm
- 测量范围(EFL) +5...+500mm;-5...-500mm
- 测量范围(MTF) 5...50mmEFL
- 测量范围(BFL) 5...350mm
- 测量范围(R) 5...350mm
- 测量精度(EFL) 5-25mm:0.1-0.3%;25-500mm:0.03-0.1%;500-2000mm:0.05-0.3%
- 测量精度(MTF) ±0.02
- 测量精度(BFL) 0.05...0.3%
- 测量精度(R) 0.05...0.3%
- 重复精度(EFL) 0.03...0.2%
- 重复精度(MTF) ±0.01
- 重复精度(BFL) 0.03...0.2%
- 重复精度(R) 0.03...0.2%
产品编号 | 750135 | |
被测样品直径 | 5...75mm | |
有效通光孔径 | 48mm | |
测量范围 | EFL | +5. ..+1000mm/-5.. .-1000mm |
MTF | 5...50mm EFL | |
BFL | ±5 …±490mm | |
R | ±5...400mm | |
测量精度 | EFL | ±0.2% |
MTF | 0.02 | |
BFL | ±0.3% | |
R | ±0.3% | |
重复精度 | EFL | 0.03...0.2% |
MTF | ±1% | |
BFL | ±0.2% | |
R | ±0.2% |
扩展功能技术指标:
中心偏差测量
测量范围(R/EFL) |
+5... +450mm |
|||||
扩展范围(R/EFL) |
±2000mm |
|||||
测量精度 |
±2″ 或 ±0.2μm |
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重复精度 |
±1″ 或 ±0.1μm |
平面光学元件角度测量
测量精度 | ±1.3″ | |||||
重复精度 | ±0.2″ | |||||
分辨率 | 0.01″ |
光学系统空气间隔测量
产品编号 | 750135 |
测量范围 | 200mm / 400mm / 600mm / 800mm光程可选 |
测量精度 | ±0.15µm或±0.5µm或±1µm |
测量速度 | 1.5″/10mm光程 |
测量波长 | 1310 nm |
产品功能:
- 有效焦距(EFL)测量
- 轴上光学传递函数(MTF)测量
- 后截距(BFL)测量
- 曲率半径(R)测量
可扩展功能:
- 单镜片中心偏差测量
- 镜头组中心偏差测量
- 平面光学元件角度测量
- 光学系统空气间隔测量