电光Q开关.jpg)
光学非接触式测厚仪
Lens Thick非接触式光学测厚仪
LensThick非接触式光学测厚仪利用低相干光干涉测量方法来精确测量厚度，以宽谱光源作为相干光源，其相干长度短，只有在测量光和参考光的光程相等时才能产生干涉峰值，因此具有很好的空间定位特性，测厚仪内置光学干涉仪，通过计算透镜前后镜面顶点对应干涉峰之间的距离变化可以得出透镜的中心厚度。
设备介绍
LensThick光学测厚仪的操作简单，每次可轻松获得可靠的厚度值。测量数据经过数字信号处理器计算，通过USB传输到PC，再以图形的形式显示在用户界面，可直接读取每层厚度值，操作更简单、更直观。
设备介绍
LensThick光学测厚仪的操作简单，每次可轻松获得可靠的厚度值。测量数据经过数字信号处理器计算，通过USB传输到PC，再以图形的形式显示在用户界面，可直接读取每层厚度值，操作更简单、更直观。
| 测量过程 | .jpg) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| 测量软件 |
| 光学测厚仪使用LensThick软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时优化。 自动峰值模式：使用操作员创建的样品设计文件，可以定义最多32个反射面（31层）的预期峰值位置，软件可自动识别在指定的阈度内最接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速有效的。 |
 软件界面 |
.png) 测量原理图 |
| 典型应用 | 主要优势 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
产品编号
产品名称
货期
价格
购买
| 规格参数 LensThick系列 | ||||||
| 型号 | 12-1 UP | 40-1 UP | 80-1 UP | 12-1 | 40-1 | 80-1 |
| 厚度测量 | ||||||
| 方法 | 非接触式光学干涉仪 | |||||
| 精度1，2 | ±0.1 μm | ±1 μm | ||||
| 重复性3，4 | ±0.02 μm | ±0.05 pm | ||||
| 最大量程（光程）5 | 12 mm | 40 mm | 80 mm | 12 mm | 40 mm | 80 mm |
| 最小厚度6 | 16 μm | 20 um | 24 μm | 35 μm | ||
| 测量频率 | 20 Hz | 7 Hz | 4 Hz | 20 Hz | 7 Hz | 4 Hz |
| 单位 | mm、μm | |||||
| 溯源 | NIM认证标准 | |||||
| 环境7 | ||||||
| 热机时间 | 无 | |||||
| 温度 | 15°C 到 30°C （存储-10°C 到 +70°C） | |||||
| 压力 | 500 一 900 mm Hg | |||||
| 湿度 | 在+40°C时＜90% R.H.（无冷凝） | |||||
| 主机尺寸和重量 | ||||||
| 尺寸 | 570mmx700mmx590mm （长x宽x高） | |||||
| 重量 | 60kg | |||||
| 支架尺寸和数量 | ||||||
| 尺寸 | 330mmx430mmx685mm （长x宽x高） | |||||
| 重量 | 20kg | |||||
| 其他 | ||||||
| 功率 | 90-264 VAC, 47-63 Hz, 80 VA最大 | |||||
| 仪器接口 | USB2.0及以上接口最多可支持8通道测量 | |||||
| 电脑配置 | Windows 7/8/10,1GB内存，USB2.0以上接口，显示器，键盘，鼠标 | |||||
| 保质期 | 1年 | |||||
(2)整个运行环境条件的不确定性。
(3)60分钟测量周期的标准偏差。
(4)取决于被测材料在1.3um波长下的反射率。该规格书是在4%反射条件下给出的。当反射条件较低时，重复性最坏会降低到约±0.15um。
(5)折射率为1时。
(6)折射率为1.5的材料。
(7)特性性能，但不是一定的。
