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OptiSurf®镜面定位仪
全欧光学中心厚度测量仪，采用非接触式的测量方法，集成了OptiSurf ®镜面定位仪的功能，配有定心机械卡口，可测量单个球面透镜，非球面透镜，柱面镜，双胶合透镜，三胶合透镜和平面镜等光学元件的中心厚度，也可测量光学系统中单个元件的中心厚度与空气间隔。
该产品可用于紫外（UV），可见光（VIS）和红外（IR）光学元件中心厚度和光学镜头及光学系统空气间隔的检测，特别是对远红外镜头（LWIR）的测量，有较高的测量精度与重复精度，测量镜片的较大光学厚度可达800mm，较高精度达0.15微米，可选配温度及气压传感器。中心厚度测量仪采用低相干干涉仪测量原理，可自动扫描识别被测物体，一次性测量光学系统中所有表面的距离，从而给出用户需要的结果，可为后续光学镜头和光学系统的装配提供质量保证，这在光学镜头前期研发阶段尤为重要。
该产品可用于紫外（UV），可见光（VIS）和红外（IR）光学元件中心厚度和光学镜头及光学系统空气间隔的检测，特别是对远红外镜头（LWIR）的测量，有较高的测量精度与重复精度，测量镜片的较大光学厚度可达800mm，较高精度达0.15微米，可选配温度及气压传感器。中心厚度测量仪采用低相干干涉仪测量原理，可自动扫描识别被测物体，一次性测量光学系统中所有表面的距离，从而给出用户需要的结果，可为后续光学镜头和光学系统的装配提供质量保证，这在光学镜头前期研发阶段尤为重要。
- 采用非接触式的测量方法，集成了OptiSurf ®镜面定位仪的功能
- 配有定心机械卡口，可测量单个球面透镜，非球面透镜，柱面镜，双胶合透镜，三胶合透镜和平面镜等光学元件的中心厚度
- 也可测量光学系统中单个元件的中心厚度与空气间隔
- 可用于紫外（UV），可见光（VIS）和红外（IR）光学元件中心厚度和光学镜头及光学系统空气间隔的检测
产品列表
OptiSurf® 镜面定位仪
德国TRIOPTICS GmbH设计的OptiSurf®镜面定位仪用于高精度地测量光学系统中的光学元件中心厚度和空气间隔；OptiSurf®镜面定位仪基于低相干干涉原理，采用非接触式测量，是光学系统装调中检测和控制空气间隔较理想的工具。
OptiSurf® - 高精度低相干干涉仪，用于UV VIS和IR光学元件的中心厚度和空气间隔。
OptiSurf® 是非接触式测量单镜头、平面关系和光学系统中心厚度与空气间隔的理想工具。该仪器基于低相干干涉仪测量原理，经一次扫描即可测量光学系统中所有的表面距离，精度高达0.15µm。特别是，与常规系统相比。OptiSurf®大大简化了样品对于测量轴的对准过程；颇具创新性的对准工具，可调的样品支架以及简便的软件控制使无经验的操作者也能够精确的对准并进行测量。这种省时的创新使OptiSurf® 可用于生产中。
OptiSurf®是市场中唯一可测量远红外镜头材料的设备。作为 OptiCentric® IR设备的更新， OptiCentric® IR 是红外透镜高精度组装工艺的完美补充。
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主要特征： |
产品应用： |
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文件
产品编号
产品名称
货期
价格
购买
OptiSurf®镜面定位仪
| 产品编号 | 750040 | 750041 | 750042 |
| 产品型号 | OptiSurf® | OptiSurf® Ultra | OptiSurf® UP |
| 测量波长 | 1310nm | 1310nm | 1310nm |
| 测量精度 | ±1μm | ±0.5μm | ±0.15μm |
| 重复精度 | ±0.5μm | ±0.25μm | ±0.075μm |
| 测量范围 | 400mm / 600mm / 800mm光程 | 200mm / 400mm / 600mm / 800mm光程 | |
| 测量速度 | 15秒/100mm | ||
| 温度及气压传感器 | 选配 | 标配 | |
| 电脑接口 | USB及RS232 | ||
OptiSurf®LTM镜片厚度测量仪
对于光学产品而言，高精度的光学系统需要高质量的单镜片。OptiSurf®LTM镜片厚度测量仪就是德国TRIOTICS公司为此开发的一款能很好的适用于不同产品的非接触式单镜片中心厚度测量系统。
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主要特点： |
产品应用： |
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文件
产品编号
产品名称
货期
价格
购买
OptiSurf®LTM镜片厚度测量仪
| 产品编号 | 750013-1 |
| 产品型号 | OptiSurf®LTM |
| 测量波长 | 1310nm |
| 测量精度 | ±0.5μm |
| 重复精度 | ±0.25μm |
| 测量范围 | 标配0.2mm-50mm，可拓展至150mm |
| 外形尺寸 | 高390mm，宽504mm，长504mm |
