OptiSurf^®  - 高精度低相干干涉仪，用于UV VIS和IR光学元件的中心厚度和空气间隔。

OptiSurf^® 是非接触式测量单镜头、平面关系和光学系统中心厚度与空气间隔的理想工具。该仪器基于低相干干涉仪测量原理，经一次扫描即可测量光学系统中所有的表面距离，精度高达0.15µm。特别是，与常规系统相比。OptiSurf^®大大简化了样品对于测量轴的对准过程；颇具创新性的对准工具，可调的样品支架以及简便的软件控制使无经验的操作者也能够精确的对准并进行测量。这种省时的创新使OptiSurf^® 可用于生产中。

 OptiSurf^®是市场中唯一可测量远红外镜头材料的设备。作为 OptiCentric^® IR设备的更新， OptiCentric^® IR 是红外透镜高精度组装工艺的完美补充。