电光Q开关.jpg)
Lens Thick非接触式光学测厚仪40-1
利用低相干光干涉测量方法来精确测量厚度，具有很好的空间定位特性
价格 请咨询
产品型号 40-1
货期 请咨询
咨询
产品文件资料 点击下载
| 型号 | 40-1 |
| 厚度测量 | |
| 方法 | 非接触式光学干涉仪 |
| 精度1，2 | ±1 μm |
| 重复性3，4 | ±0.05 pm |
| 最大量程（光程）5 | 40 mm |
| 最小厚度6 | 35 μm |
| 测量频率 | 7 Hz |
| 单位 | mm、μm |
| 溯源 | NIM认证标准 |
| 环境7 | |
| 热机时间 | 无 |
| 温度 | 15°C 到 30°C （存储-10°C 到 +70°C） |
| 压力 | 500 一 900 mm Hg |
| 湿度 | 在+40°C时＜90% R.H.（无冷凝） |
| 主机尺寸和重量 | |
| 尺寸 | 570mmx700mmx590mm （长x宽x高） |
| 重量 | 60kg |
| 支架尺寸和数量 | |
| 尺寸 | 330mmx430mmx685mm （长x宽x高） |
| 重量 | 20kg |
| 其他 | |
| 功率 | 90-264 VAC, 47-63 Hz, 80 VA最大 |
| 仪器接口 | USB2.0及以上接口最多可支持8通道测量 |
| 电脑配置 | Windows 7/8/10,1GB内存，USB2.0以上接口，显示器，键盘，鼠标 |
| 保质期 | 1年 |
(1)定义为测量不确定度或最大厚度误差，置信度≥99.7%。
(3)60分钟测量周期的标准偏差。
(4)取决于被测材料在1.3um波长下的反射率。该规格书是在4%反射条件下给出的。当反射条件较低时，重复性最坏会降低到约±0.15um。
(5)折射率为1时。
(6)折射率为1.5的材料。
(7)特性性能，但不是一定的。
LensThick光学测厚仪的操作简单，每次可轻松获得可靠的厚度值。测量数据经过数字信号处理器计算，通过USB传输到PC，再以图形的形式显示在用户界面，可直接读取每层厚度值，操作更简单、更直观。
典型应用
测量软件
光学测厚仪使用LensThick软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时优化。
自动峰值模式：使用操作员创建的样品设计文件，可以定义最多32个反射面（31层）的预期峰值位置，软件可自动识别在指定的阈度内最接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。
此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速有效的。
典型应用
- 光学元件和透镜组件：测量单个镜片以及镜头组包括空气间隔
- 医用导管窥镜：可同时测量管壁厚、内径和外径
- 隐形眼镜和人工晶状体：测量中心厚度、矢高和群折射率
- 隐形眼镜和人工晶状体：测量中心厚度、矢高和群折射率
- LCD、LED、OLED和AMOLED显示屏：测量总厚度和各层厚度，包括LOCA（液体光学透明粘合剂）层
- 抛光玻璃：测量化学腐蚀前后的厚度或抛光工艺，使玻璃板更薄、更轻
- 半导体：硅/砷化镓晶片
|
|
|
|
|
|
|
|
|
| 测量过程 | .jpg) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
测量软件
光学测厚仪使用LensThick软件可实时显示被测试产品的厚度和干涉信号，以便实时优化。
自动峰值模式：使用操作员创建的样品设计文件，可以定义最多32个反射面（31层）的预期峰值位置，软件可自动识别在指定的阈度内最接近预期峰值位置的峰值，从而计算并输出每层的厚度。
此外，软件还带有判据功能，即超出设计值的公差范围，数据显示为红色。这些功能对质量控制是非常快速有效的。
 |
.png) |
| 软件界面 | 测量原理图 |
