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光斑分析仪
光斑分析仪有光束分析仪 BeamOn WSR、 BeamOn HR 1″ 光斑分析仪、M²激光束质量分析仪等系列。其中BeamOn WSR、光束分析仪BeamOn U3两个系列，可测量连续光和脉冲光的光束轮廓、光束质心和位置的完整测试站，可以测量激光束的各种参数，如：强度分布、束宽、形状、位置和功率，软件还提供光束分析设置和结果的报告功能。
- BeamOn WSR：宽光谱范围 190nm 至 1600nm CCD 光束分析仪
- Beam On U3-E：创新的光束分析仪 (1/1.2")
- BeamOn HR 1" ：具有2000万像素，宽光谱范围从深紫外到1350 nm
- M²激光束质量分析仪：配置风冷束流采样器，可以实现高功率的检测
| 波长 | 633nm | 980nm | 1310nm | 1550nm |
| 饱和度 | 20 µW/mm² | 100 µW/mm² | 0.2 W/mm² | 2 W/mm² |
| 灵敏度 | 优于1 nW/mm² | 优于 1 nanoW/mm² | 200 µW/mm² | 2 mW/mm² |
主要软件功能
电脑要求
Pentium IV，双核，2GHz，512MB RAM，64MB 16 位彩色 VGA 卡，分辨率 1024x768，CD ROM （任何类型），高速 USB2.0 端口，操作系统 Win/ 2000/ XP/ Vista/ 7， 32位 /7， 64 位/8/10。
系统性能
可见光350-1600nm
紫外-近红外190-1600nm(* )
- 实时光斑尺寸和高斯拟合（或平顶）
- 实时光束的2D/3D示意图
- 触发信号可调
- 软件控制的电子快门和增益
- 带回放的视频、快照文件
- 通过 RS232 或 TCP/IP 将数据导出到另一台计算机
- 详细统计数据记录
- 包含从应用程序控制软件的 DLL 包
- 自动合格/不合格分析报告
- 电动滤光片转轮提供更宽的动态范围
- 缩放
- 平均
电脑要求
Pentium IV，双核，2GHz，512MB RAM，64MB 16 位彩色 VGA 卡，分辨率 1024x768，CD ROM （任何类型），高速 USB2.0 端口，操作系统 Win/ 2000/ XP/ Vista/ 7， 32位 /7， 64 位/8/10。
系统性能
可见光350-1600nm
紫外-近红外190-1600nm(* )
产品列表
光束分析仪 BeamOn WSR
宽光谱范围 190nm 至 1600nm CCD 光束分析仪
BeamOn-WSR系统是一种用于连续或脉冲激光束实时测量的光束诊断测量系统。它用于测量激光束的各种参数，如：强度分布、束宽、形状、位置和相对功率。软件还提供光束分析设置和结果的报告功能。
BeamOn-WSR每次都以不同的衰减或电子快门速度进行测量。
一套完整的激光束分析系统，包括一个CCD相机、一个带有一组 4xND 滤镜（ND8、ND64、ND200 和 ND1000）的内置滤镜轮、内置一个（可拆卸）IR 边缘滤光片、USB2.0接口、软件和用户手册（CD /优盘），便携手提箱。
采用无失真传感器镀膜新技术
BeamOn-WSR系统是一种用于连续或脉冲激光束实时测量的光束诊断测量系统。它用于测量激光束的各种参数，如：强度分布、束宽、形状、位置和相对功率。软件还提供光束分析设置和结果的报告功能。
BeamOn-WSR每次都以不同的衰减或电子快门速度进行测量。
一套完整的激光束分析系统，包括一个CCD相机、一个带有一组 4xND 滤镜（ND8、ND64、ND200 和 ND1000）的内置滤镜轮、内置一个（可拆卸）IR 边缘滤光片、USB2.0接口、软件和用户手册（CD /优盘），便携手提箱。
采用无失真传感器镀膜新技术
| 特点 | 主要应用 |
|
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光束分析仪BeamOn U3-E
由于BeamOn U3-E的特殊性， Beam On U3- E 实际上是一个各种激光束的总测量站。其235万像素的高分辨率探测器具有 16 位动态范围和 350 - 1350nm 的光谱响应。通过一整套的附件，该设备的功能性大大提高，可以测量高功率和低功率的以及大小光束的激光器测量。USB 3.0接口提高了刷新率。对于极端功率水平，可轻松连接加压气冷光束采样器，以测量几千瓦的激光束。
一套完整的激光束分析系统，包括一个相机、带电动内置滤光片轮、IR 边缘滤光片、USB3.0数据线、应用软件（CD/闪存卡）、安装支杆、35 毫米遮光罩、手提箱。
一套完整的激光束分析系统，包括一个相机、带电动内置滤光片轮、IR 边缘滤光片、USB3.0数据线、应用软件（CD/闪存卡）、安装支杆、35 毫米遮光罩、手提箱。
特点
- 创新的光束分析仪 (1/1.2”)
- 40 Hz
- 高分辨率（2.35百万像素）16位动态范围
- USB 3.0
- 完整的测试站，内置电动过滤轮和全套配件
- 多个有效区域用于多光束测量
- 多功能测量 – 测量轮廓、相对功率和位置
BeamOn HR 1″光斑分析仪
M²激光束质量分析仪
以色列DUMA公司提供的M2光束质量分析仪由七刀口式光束分析仪和移动平台组成，通过采集多个测量面实现对M²因子的测量，整体准确度保持在±5％范围内，满足用户对光束质量参数的需求，主要包括M2因子，发散角以及束腰参数等数据的检测。
由于光斑分析仪应用刀口式扫描的原理，需要通过刀口截取激光面，因此无法实现对脉冲激光的检测。为了满足用户对测量激光种类的需求，我们为用户提供了特殊型号选择，700755。该型号采取CMOS传感器搭配移动平台，可以实现对350-1600nm波段脉冲激光的测量，解决了用户对脉冲激光检测的需求。刀口式扫描分析原理的测量精度与光束尺寸无关，因此对于微米级的激光束，刀口扫描式分析相比于狭缝或针孔式原理的测量精度略高，M2Beam激光光束分析仪可以实现实时监控激光光束质量，配置USB3.0接口，通过连接移动端，实现数据快速传输以及便捷使用。
联合光科提供M2Beam光束质量分析仪的普通版本以及高功率版本，通过配置风冷束流采样器，可以实现高功率的检测，从而保护探测头不受功率损伤。
由于光斑分析仪应用刀口式扫描的原理，需要通过刀口截取激光面，因此无法实现对脉冲激光的检测。为了满足用户对测量激光种类的需求，我们为用户提供了特殊型号选择，700755。该型号采取CMOS传感器搭配移动平台，可以实现对350-1600nm波段脉冲激光的测量，解决了用户对脉冲激光检测的需求。刀口式扫描分析原理的测量精度与光束尺寸无关，因此对于微米级的激光束，刀口扫描式分析相比于狭缝或针孔式原理的测量精度略高，M2Beam激光光束分析仪可以实现实时监控激光光束质量，配置USB3.0接口，通过连接移动端，实现数据快速传输以及便捷使用。
联合光科提供M2Beam光束质量分析仪的普通版本以及高功率版本，通过配置风冷束流采样器，可以实现高功率的检测，从而保护探测头不受功率损伤。
特点
- 可检测连续激光以及脉冲激光
- 独特的断层图像重建技术
- 透镜尺寸25mm,可以实现较大光束直径的测量
- USB3.0接口快速数据传输
- 激光质量监控
- 可配置采样器，实现高功率激光检测
- 即插即用，使用便捷
文件
产品编号
规格参数
光谱范围
激光功率范围
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光斑分析仪 BeamOn LA U3 - E
以色列DUMA Optronics的BeamOn LA U3-E光束轮廓分析仪能够测量的波长范围是： 350-1150 nm，探测器面积高达Ø 60 mm，最小可以测量5 mm的光束直径，分辨率高达200多万像素。是一款用于测量连续光或脉冲光实时测量的大孔径光斑分析仪。软件系统能够提供测量激光的光束参数，例如：光束宽度、形状、质心位置、相对功率、强度分布以及光束分析设置和结果的报告功能。
主要特点：
主要特点：
- 实时光束尺寸分析和高斯拟合
- 实时显示光束2D/3D图
- 高分辨率（1936 x 1216 pixels）
- 大尺寸有效探测面积（Ø 60 mm，校准Ø 55 mm）
微米级光斑分析仪 μBeam
uBeam系列光斑分析仪是CCD型光斑分析仪，其CCD面积3.2x2.4mm，波长范围350~1310nm，像素~4x4μm，配合10倍到100倍物镜放大，实际像素可以变成0.4μm到0.04μm，可以测量小至0.5um的光束。uBeam光束分析仪可以用于实时测量和显示亚微米范围的连续或脉冲激光、光纤以及激光二极管的光束轮廓，主要是聚焦光斑，因此也称为聚焦光斑测试仪。
主要特点：
主要特点：
- 测量小于0.5µm光束（FWHM）
- 高分辨率CCD（80万像素），CCD面积3.2x2.4mm，像素~4x4μm
- x10、x20、x50、x100等不同倍率的物镜，有效像素最小0.04x0.04um
- 长工作距离、光学变焦
