新品 激光束质量分析仪 M2 Beam

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产品型号 700754

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光谱范围 Si :350 - 1100 nm InGaAs :800 - 1800nm UV-Enhanced:190 - 1100nm InGaAs enhanced :800 – 2700nm
激光功率范围 100 µW – 1W (with supplied internal filters for the Si version) 100 µW – 5 mW for InGaAs & UV versions Up to 4 kW for HP version
规格
输入光束:
产品名称 M2Beam M2Beam U3
产品编号 700754 700755
技术工艺 刀口式扫描原理,应用Si探测器,InGaAs探测器和增强型InGaAs探测器 USB 3.0接口
CMOS 2.4MP
内置过滤论
光谱范围 (nm) Si :350 - 1100 nm
InGaAs :800 - 1800nm
 UV-Enhanced:190 - 1100nm 
 InGaAs enhanced :800 – 2700nm
350-1350 nm (VIS NIR),内置特殊CMOS技术
激光功率范围 100 µW – 1W (with supplied internal filters for the Si version)
100 µW – 5 mW for InGaAs & UV versions Up to 4 kW for HP version
10µW-100 mW,内置滤光轮
HP:到达4KW
刀口数 7 ---
光束尺寸 带透镜高达25mm直径(Si&UV版本)
束腰到透镜距离 2.0~2.5米最佳
最小2米


扫描装配附件:

材质
透镜焦距 300mm(在632.6nm时)
透镜直径 25mm
扫描次数 140
最小步进尺寸 100μm
扫描长度 280mm
 

整机:

重量 2.5kg
尺寸 100×173×415 mm
托架 M6或1/4“固定
机械调整 水平角:±1.5°,垂直角:±1.5°
电缆长度 2.5m

订购信息
700754 -XX
M2 Beam -Si-USB:350 - 1100 nm
-UV-USB:190 - 1100nm 
-IR3-USB:800 - 1800nm
-IR5-USB:800 – 1800nm
以色列DUMA公司提供的M2光束质量分析仪由七刀口式光束分析仪和移动平台组成,通过采集多个测量面实现对M²因子的测量,整体准确度保持在±5%范围内,满足用户对光束质量参数的需求,主要包括M2因子,发散角以及束腰参数等数据的检测。
由于光斑分析仪应用刀口式扫描的原理,需要通过刀口截取激光面,因此无法实现对脉冲激光的检测。为了满足用户对测量激光种类的需求,我们为用户提供了特殊型号选择,700755。该型号采取CMOS传感器搭配移动平台,可以实现对350-1600nm波段脉冲激光的测量,解决了用户对脉冲激光检测的需求。刀口式扫描分析原理的测量精度与光束尺寸无关,因此对于微米级的激光束,刀口扫描式分析相比于狭缝或针孔式原理的测量精度略高,M2Beam激光光束分析仪可以实现实时监控激光光束质量,配置USB3.0接口,通过连接移动端,实现数据快速传输以及便捷使用。
联合光科提供M2Beam光束质量分析仪的普通版本以及高功率版本,通过配置风冷束流采样器,可以实现高功率的检测,从而保护探测头不受功率损伤。

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