电光Q开关.jpg)
| 产品编号 | 750130 |
| 产品型号 | µPhase® ST/ST+R |
| 用途 | 研发、生产 |
| 被测样品类型 | 平面、球面 |
| 被测样品尺寸（测量范围） | 最大50mm，样品大小取决于类型和测试镜头 |
| 被测样品最大重量 | 1.5kg |
| 半径测量范围 | 约220mm、根据厚度测量曲率半径（模拟数字化） |
| 半径测量精度 | 取决于厚度：0.5μm-5μm |
| 校准工具 | 手动XY调节、倾斜台和z聚焦 |
| 尺寸（高x宽x深） | 500mmx300mmx400mm、移动范围在160mm-300mm之间（取决于配置） |
| 重量 | 20kg |
新型μPhase® ST/ST+R生产/研发专用干涉仪能够快速测量光学表面和波前，测量时间只需数秒钟。 该干涉仪操作简单，集成校准模式，测量迅速，是在线检测平面和球面样品的理想设备。
产品应用
- 用于测量平面和球面样品
- 可用于基于10mm和50mm的光学器件
- 紧凑型桌面设置，用于垂直测量，占地面积小
- 通过集成的倾斜和xy平移台实现样品优化校准
- 垂直轴用于高精度调整，可粗调和微调
- 可选半径测量功能
