电光Q开关.jpg)
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1.TCB黑体
2. CJT 500平行光管
3.TIR辐射源
4. 靶标
5. 手动平台
6. SS-2M 电动平台
7. 一组红外物镜
IR35, IR812 和 IR 13是高质量的红外物镜可用于在被测量的红外焦平面上生成辐射斑以便于扫描光点测试。
8. M250单色仪
9. TM 探测模块
TM 模块是一个直接连接到M250输出端的小尺寸探测模，它可以在1-15mm的红外辐射光谱范围内保持高灵敏度和高均匀性。用户可以调整它的增益和偏移；它可以测量和标准化IR 314 光源 – M 250 单色仪。
10. DES 模块
DES (探测器电子支持) 模块已经被加工成一个通用的相机核心用于接受国际市场上典型的红外焦平面探测器。唯一的将探测器能与之适应的改动在于增加一个简单的和探测器管脚相匹配的电子适配器和修正的配置文件。DES模块由一系列的印刷电路板与相对应的机械模块所组成。
DES模块可以提供与IR FPA探测器相应的软件，可以提供所有的电压，限制电流，波形和所需信号强度. 连接DES模块后由图像传感器所生成的图像质量不会低于专门为同一款IR FPA探测器所定制的机芯图像质量差。
DES模块装有一个控制信号的图像编辑器，它能够为所有的还没有定制的探测器建立一个自定义的配置，软件可以读入和显示由DES模块与探测器所生成的视频图像，内嵌的程序语言可以自动控制测试程序，也可以在备查库中存储所有的探测器设置。
DES模块可以与制冷的探测器相匹配（可以随意的与前端的LEMO/SMA的接插板连接）, 它安装有一个制冷管 (斯特林制冷), 热电制冷或者是非制冷图像探测器均可与之相匹配，另外, DES模块也可以与非快门探测器或者装有快门的探测器相匹配。
DES模块 可以进行FPA非均匀性的校正(两点环境温度补偿和时钟错误刷新), 坏像素补偿, 对比度增强/ 辐射度转换), 自动增益和电平控制 (线性或直方),差值水平重测图，冻结显示和2X镜头。
概括来讲, DES 模块是一个多功能的机芯，当连接到被测试的IR FPA时可以从探测器生成的图像作为一个标准的电子格式(模拟视频, USB 2.0, CameraLink 或者 GigE. 这样DES模块就可以实现IR FPA的测试并且可以确定它的噪声/灵敏度参数，像质参数以及光谱参数。然而，DES模块可以给出IR FPA的最优控制信号，由于DES的灵活性从而得到计算机化的最优控制。
DES控制器有以下模块组成:
11. 电压偏压卡和ADC卡
所有的偏压设置和ADC卡都是基于PC软件通过控制器板控制的，偏压卡是专门用于高电压偏压CCD探测器和可由开关控制的3.3V和5V的IR FPA电压供给，它可以支持4通道温度测量，当然，它可以和不同类型的探测器相匹配而并不仅仅只是温度，同时存在16位的与ADCs卡高度集成的成像数据处理，这些数据处理器支持了不同类型的信号输入和范围。
所有的 ADC 通道都可以在相关的复式取样或者取样保持放大器模式下操作。增益、偏移量、范围以及SHA/CDS模式可以被控制器组件进行个别每一个4通道的调整。
12. 时钟脉冲驱动卡
时钟脉冲驱动卡在10个通道内可以产生完全的，可编程的，各种复杂的能与IR FPA探测器所适应的波形。该组件可以包括TEC组件驱动电压和电流测定，快门电机驱动和步进电机驱动电路。
时钟驱动信号由 FPGA 可编程控制器产生 – 对于复杂的信号模式没有实际的极限以及所有的参数都可以个性化定制。
13. IR 115 辐射源
IR 115 是一个小尺寸的类似于黑体的IR红外辐射源，用来给M 250 单色仪辐射输入。基于它小巧的尺寸以及高温的灯丝可以说它是对于IR探测器的光谱参数是一个完美的光源。
14. SAT 采集和测试模块
SAT采集和分析模块能够捕获和分析从所要测试的FPA得到的输出信号再进一步分析和测定重要的FPA参数， SAT模块由以下的部件组成：电脑、采集卡、TAS 软件。
| 型号 | TCB-4D |
| 有效孔径 | 100mm x 100mm |
| 差分温度范围 | -20°C ~ +55°C |
| 绝对温度范围 | 0°C ~ +80°C |
| 设定和分辨率 | 0.001°C |
| 辐射率 | 0.97±0.01 |
| 温度均匀性 | 当温差小于5°C ：<0.01°C |
| 响应时间 | 90秒-10°C步长 |
| 调节稳定性 | 温差小于10°C：±0.002°C |
| 电源 | 220-230VAC，50/60Hz |
| 工作温度 | +5°C ~ +35°C |
2. CJT 500平行光管
| 型号 | CJT 500 |
| 平行光管类型 | 离轴反射式 |
| 孔径 | 30mm |
| 焦距 | 500mm |
| 光谱范围 | 0.4mm ~ 15mm |
| 空间分辨率 | >50lp/mrad |
| 镀膜 | 保护铝 |
| 尺寸 | 420mm x 280mm x 180mm |
| 重量 | 5kg |
3.TIR辐射源
| 型号 | TIR |
| 光谱范围 | 典型值3mm ~ 15mm（可扩展范围：1mm ~ 15mm） |
| 最大温度 | 典型100°C |
| 控制方式 | 从CTIR控制器手动 |
| 电源 | 230V（由控制器） |
| 尺寸 | 55mm x 55mm x 160mm |
| 重量 | 1.5kg |
4. 靶标
| 型号 | M25 |
| 有效尺寸 | 25mm x 25mm |
| 辐射率 | 0.97±0.01 |
| 靶标类型 | 针孔，狭缝，刀口，4杆靶 |
| 针孔靶个数 | 4 |
| 狭缝靶个数 | 3 |
| 刀口靶个数 | 1 |
| 4杆靶个数 | 6 |
5. 手动平台
| 型号 | OS1 |
| 平台尺寸 | 100x100mm |
| Z轴行程 | 100 mm |
6. SS-2M 电动平台
| 型号 | SS-2M |
| y行程 | 32 mm |
| z 行程 | 44 mm |
| 分辨率 | 20 mm |
| PS控制 | RS 232 |
7. 一组红外物镜
IR35, IR812 和 IR 13是高质量的红外物镜可用于在被测量的红外焦平面上生成辐射斑以便于扫描光点测试。
| 型号：IR 35 | |
| 光谱范围 | 3-5.5 mm |
| F-数 | 1.7 |
| 模糊斑点 | 20 mm |
| 型号：IR 812 | |
| 光谱范围 | 8-12 mm |
| F-数 | 1.7 |
| 模糊斑点 | 30 mm |
| 型号：IR 13 | |
| 光谱范围 | 1-3 mm |
| F-数 | 2.5 |
| 模糊斑点 | 10 mm |
8. M250单色仪
| 型号/参数 | M250 |
| 光谱范围 | 0.9-3 mm – M250SW 3-6 mm – M250MW 6-15 mm – M250LW |
| 分辨率 | 10 nm |
| 控制 | RS 232 (由控制器) |
| 电源 | 230V (由控制器) |
| 尺寸 | 280 x 180 x 100mm – controller 350 x 280 x 230mm – optical head |
9. TM 探测模块
TM 模块是一个直接连接到M250输出端的小尺寸探测模，它可以在1-15mm的红外辐射光谱范围内保持高灵敏度和高均匀性。用户可以调整它的增益和偏移；它可以测量和标准化IR 314 光源 – M 250 单色仪。
| 模式/参数 | |
| 光谱灵敏度范围 | 1-15 mm |
| 增益 | 可调 |
| 偏移 | 可调 |
| 灵敏度 | 一致 |
| 电源 | 12V |
| 尺寸 | 50 x 50 x 70mm |
10. DES 模块
DES (探测器电子支持) 模块已经被加工成一个通用的相机核心用于接受国际市场上典型的红外焦平面探测器。唯一的将探测器能与之适应的改动在于增加一个简单的和探测器管脚相匹配的电子适配器和修正的配置文件。DES模块由一系列的印刷电路板与相对应的机械模块所组成。
DES模块可以提供与IR FPA探测器相应的软件，可以提供所有的电压，限制电流，波形和所需信号强度. 连接DES模块后由图像传感器所生成的图像质量不会低于专门为同一款IR FPA探测器所定制的机芯图像质量差。
DES模块装有一个控制信号的图像编辑器，它能够为所有的还没有定制的探测器建立一个自定义的配置，软件可以读入和显示由DES模块与探测器所生成的视频图像，内嵌的程序语言可以自动控制测试程序，也可以在备查库中存储所有的探测器设置。
DES模块可以与制冷的探测器相匹配（可以随意的与前端的LEMO/SMA的接插板连接）, 它安装有一个制冷管 (斯特林制冷), 热电制冷或者是非制冷图像探测器均可与之相匹配，另外, DES模块也可以与非快门探测器或者装有快门的探测器相匹配。
DES模块 可以进行FPA非均匀性的校正(两点环境温度补偿和时钟错误刷新), 坏像素补偿, 对比度增强/ 辐射度转换), 自动增益和电平控制 (线性或直方),差值水平重测图，冻结显示和2X镜头。
概括来讲, DES 模块是一个多功能的机芯，当连接到被测试的IR FPA时可以从探测器生成的图像作为一个标准的电子格式(模拟视频, USB 2.0, CameraLink 或者 GigE. 这样DES模块就可以实现IR FPA的测试并且可以确定它的噪声/灵敏度参数，像质参数以及光谱参数。然而，DES模块可以给出IR FPA的最优控制信号，由于DES的灵活性从而得到计算机化的最优控制。
| 参数/功能 | Value |
| IR FPA 最大分辨率 | 1280x1024 |
| 最大帧频 | 基于IR FPA的分辨率和电子图像输出信号 |
| 标准输出信号 | 模拟视频 (PAL, NTSC), USB 2.0, CameraLink, GigE) |
| 和探测器所连接的插槽数量 | 3 |
| 热点制冷 (典型版本) | Yes |
| IR FPA斯特林制冷器适配器 | Yes (可选) |
| IR FPA in LN2 dewarr适配器 | Yes (可选) |
| 电压过载保护 | Yes |
| 输出图像质量 | 不低于专门定制的机芯所生成的像质 |
| 非均匀性校正 | Yes |
| 坏像素补偿 | Yes |
| 对比度增强 | Yes |
| 自动增益和电平控制 | Yes |
| 差值水平重测图 | Yes |
| IR FPA 最优控制 | Yes |
| 软件系统 | Windows XP |
- USB2.0 – 并行转换器. 可一侧提供FIFO & UART界面另一侧提供 USB 2.0 (480mbit/s). FIFO用于数据传输 UART用于控制数据。
- 主 FPGA –控制整套设备. 可以实现SDRAM 存储控制, DAC PWMs, ADC 控制, 电流限制, CCD/FPA 驱动信号, 可编程的控制。
- 32MB SDRAM 存储, 16 bit 位宽. 直接与USB相连接并能存储管脚。
- AVR 8 比特 CPU. 他从USB端收到命令, 进行解码, 发送并且计算结果，通过并行接口控制所有的FPGA模块. 可随意的与LCD显示器以及键盘相连接。
- Camera Link 界面. 用于告诉的，高分辨率的图像传输，可以代替USB2.0进行传输或者可以和USB2.0双向输出
11. 电压偏压卡和ADC卡
所有的偏压设置和ADC卡都是基于PC软件通过控制器板控制的，偏压卡是专门用于高电压偏压CCD探测器和可由开关控制的3.3V和5V的IR FPA电压供给，它可以支持4通道温度测量，当然，它可以和不同类型的探测器相匹配而并不仅仅只是温度，同时存在16位的与ADCs卡高度集成的成像数据处理，这些数据处理器支持了不同类型的信号输入和范围。
| 通道数 | 11 |
| 可编程的两级通路数 | 8 |
| 可编程的单个通路数 | 1 |
| 固定通路数 | 2 |
| 每通道的当前测试范围 | 是, 12 bit ADC |
| 偏压范围 | 两级 – 8通道: -12V ~ +12V 单级 – 1 通道 : 0 ~ 25V 固定: 3.3V~5V |
| 偏压精度 | 6mV (12 bit) |
| 偏压分辨率 | 0.3mV (16 bit) |
| 最大偏压能力 | 100mA |
| 当前极限范围 | 可调整的通道：1~100mA 固定通道 : 1 ~ 500mA |
| 短路保护 | 所有输出 |
| 温度传感器输入 | 2 个 PT100 (K), 2个常规 (硅, NTC) |
| 温度测试分辨率 | 12 bit |
| 同时采样通道数 | 最大可到12 |
| ADC通道输入配置 | ·AC 交流耦合 –4通道具有高阻抗可变增益的CCD 探测器 (CDS) · DC 直流耦合 –4 通道具有固定增益的放大器 ·DC直流耦合– 4 通道具有直接的 ADC连接 (SHA) |
| ADC分辨率 | 16 bits / 8bits 可选 |
| 输入电压范围(对每一对通道可以进行个别选择) | 2V 4V 可调整的 100mV – 10V |
| 输入参考噪声 | <180uV RMS /2V range <240uV RMS /4V range |
| ADC采样速率 | 最大 8MHz /16bit 模式 / 3 通道 最大 15MHz /8 bit mode |
| 增益调整范围 | 1x…6x in 64 阶 |
| 输入偏移量调整 | -300mV…+300mV |
| 操作模式 | 对每一组三通道SHA / CDS可独立选择 |
| 过压保护 | Yes |
12. 时钟脉冲驱动卡
时钟脉冲驱动卡在10个通道内可以产生完全的，可编程的，各种复杂的能与IR FPA探测器所适应的波形。该组件可以包括TEC组件驱动电压和电流测定，快门电机驱动和步进电机驱动电路。
时钟驱动信号由 FPGA 可编程控制器产生 – 对于复杂的信号模式没有实际的极限以及所有的参数都可以个性化定制。
| 通道数 | 可编程的振幅: 12 固定振幅: 8 |
| 输入通道数 | 16, 3.3V CMOS, 5V |
| 最大频率 | 可编程的振幅: 20MHz 固定振幅: 50MHz |
| 对指定装置分辨率调节时间 | 10ns |
| 高频时钟范围 | -5V…+10V , 可选择的灵活范围 |
| 低频时钟范围 | -9V…+6V, 可选择的灵活范围 |
| 固定振幅范围 | 3.3V, 5V 可选 |
| 最大电流 | 50mA (1A peak) 可编程输出 20mA 固定输出 |
| 时钟信号不稳定度 | < 300ps RMS |
| 通用测试能力 | 总共的平均的阴极和阳极实时驱动 TEC 模块(peltier) 电压和电流 |
| 步进驱动 | 两级的, max 1A/phase, 极小的步进 |
| 快门驱动 | 2 通道, 桥接式, PWM 可调的, 最大可到1A |
| 额外的模拟输入 | 3 通道, 12 bit,例如对于快门反馈控制 |
13. IR 115 辐射源
IR 115 是一个小尺寸的类似于黑体的IR红外辐射源，用来给M 250 单色仪辐射输入。基于它小巧的尺寸以及高温的灯丝可以说它是对于IR探测器的光谱参数是一个完美的光源。
| 模式/参数 | IR 115 |
| 光谱范围 | 1-15 mm |
| 最高温度 | 1000 C |
| 控制 | 手动功率控制 |
| 电源 | 230V (从控制器) |
| 尺寸 | 65 x 65 x 120mm – 顶部；150 x 180 x 130mm – 控制器 |
14. SAT 采集和测试模块
SAT采集和分析模块能够捕获和分析从所要测试的FPA得到的输出信号再进一步分析和测定重要的FPA参数， SAT模块由以下的部件组成：电脑、采集卡、TAS 软件。
| 电脑 | |
| 参数 | IBM 电脑 – 或者现代化的PC |
| 操作系统 | Windows XP (可选 Windows 7) |
| 采集卡 | |
| 采集卡数量 | 1 – 标准选择；2- 可选 |
| 采集卡 1 | 模拟/数字视频 由采集卡采集； 动态 8-bit； 输入信号格式 - PAL, NTSC, Fire Wire, USB 2.0 |
| 采集卡 2 | 高分辨率, 高速数字采集卡； 信号输入格式: CameraLink, GigE, LVDS； 请联系并确认更为详细的没有完全标准化的CameraLink and LVDS格式 |
| TAS 程序 | |
| 工作模式 | 图像抓取, 测量, 观察器, 设计最优化 |
| 测量参数 | NETD, FPN,非均匀性, 1/f 噪声, 3D 噪声模型, NPSD, 坏像素数和位置,响应函数, D* 和相关参数, MTF, 串扰, PVF, IR FPA 像元的相对光谱灵敏度 |
| 最优化控制 | 为了产生最小的噪声参数而得到全面的最优化控制 |
| 其他参数 | 1. 可设定 : 格式, 开始时间, 读出时间, 设备像素率，设备响应区域, FOV, 坏像素定义. 2. 电压偏压设定 3. Device element re-mapping 4. 非均匀性校正 5. 坏像素位置和补偿 6. 响应区域选择 7. 图像旋转/调整 8. 图像实时存储 9. 测试结果可由2D视图输出, 柱状图, 或者可由EXCEL等商业软件输出。 |
外焦平面探测器是热成像系统最重要的核心部件。探测器电路（机芯）的设计是一个新的热成像系统的关键部分。红外焦平面技术或热像仪技术方面的专业人员必须精确地了解红外焦平面探测器参数方面的知识，这是因为红外焦平面探测器的参数决定了热像仪系统的性能极限。因此测量红外焦平面探测器性能的测量设备是研发红外热成像系统的关键。
通常由探测器生产厂家提供的技术资料给出的信息对于电路设计者来说很有限。有时候厂家提供的参数并不是十分准确。采用改进的控制信号可以提高探测器的性能。结果设计团队肯要花费几年的时间来研发针对每种型号焦平面探测器的机芯。当采用不同的焦平面探测器是还需要重复整个过程。在这种情况下需要一个通用灵活的机芯可以与不同厂家的焦平面探测器匹配，并且能够半自动确定对某种探测器的最佳的控制信号。
FT焦平面测量系统是一个模块化测量系统，它能够完成如下两个任务。一是能够测量焦平面探测器的所有重要参数；而是能够半自动确定某种探测器最佳控制信号。
红外焦平面探测器最为最终的产品（与读出电路集成的）是现代热像仪的核心。二维焦平面实际上可以看成是没有输入光学和输出观察系统的热像仪。有许多的一系列特性可以用来描述现代二代和三代红外焦平面。一些参数如MTF、NETD、FPN、非均匀性，相对光谱灵敏度曲线等和描述热像仪系统的参数是一致的。也有一些参数如串扰、点扫描，来源于传统分立探测器的特性参数如归一化NEP和D*是焦平面探测器所独有的。
FT测量系统一个模块化的实验室内使用的系统。由于采用了模块化设计，FT测量系统可以方便快速地配置成三个半独立的测量的工作站放置在实验室光学平台上：FT-N，FT-I，和FT-S。
通常由探测器生产厂家提供的技术资料给出的信息对于电路设计者来说很有限。有时候厂家提供的参数并不是十分准确。采用改进的控制信号可以提高探测器的性能。结果设计团队肯要花费几年的时间来研发针对每种型号焦平面探测器的机芯。当采用不同的焦平面探测器是还需要重复整个过程。在这种情况下需要一个通用灵活的机芯可以与不同厂家的焦平面探测器匹配，并且能够半自动确定对某种探测器的最佳的控制信号。
FT焦平面测量系统是一个模块化测量系统，它能够完成如下两个任务。一是能够测量焦平面探测器的所有重要参数；而是能够半自动确定某种探测器最佳控制信号。
红外焦平面探测器最为最终的产品（与读出电路集成的）是现代热像仪的核心。二维焦平面实际上可以看成是没有输入光学和输出观察系统的热像仪。有许多的一系列特性可以用来描述现代二代和三代红外焦平面。一些参数如MTF、NETD、FPN、非均匀性，相对光谱灵敏度曲线等和描述热像仪系统的参数是一致的。也有一些参数如串扰、点扫描，来源于传统分立探测器的特性参数如归一化NEP和D*是焦平面探测器所独有的。
FT测量系统一个模块化的实验室内使用的系统。由于采用了模块化设计，FT测量系统可以方便快速地配置成三个半独立的测量的工作站放置在实验室光学平台上：FT-N，FT-I，和FT-S。
- FT-N：测量红外焦平面探测器的噪声和响应特性
- FT-I：测量红外焦平面探测器的成像质量特性
- FT-S：测量红外焦平面探测器的光谱响应特性
