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硅平面窗口片
硅平面窗口片（Silicon (Si) Windows）是一种平行平面板，通常用作电子传感器或外在环境的检测器的保护窗口。在选择窗口时，应注意窗口片的材质、透过率及透过波段、面型、光洁度、平行差等参数指标。
可红外紫外窗口片是一种设计用于外红或紫外光谱的窗口片。窗口片设计用于防止电子传感器、检测器或其他敏感光学元件被饱和或出现光损伤现象。硅是一种红外波段常用的光学玻璃材料，透过波段为1.2-8.0μm，硅具有高热传导率。可以作为多种光学元件的基底，例如透镜、窗口片等，常用于近红外与中红外的应用，也适用于红外成像、太赫兹成像、医疗、军事等应用中。
联合光科提供不镀膜、镀增透膜的硅基底的平面窗口，提供双面增透的IR1（3-5μm）增透膜窗口片。
可红外紫外窗口片是一种设计用于外红或紫外光谱的窗口片。窗口片设计用于防止电子传感器、检测器或其他敏感光学元件被饱和或出现光损伤现象。硅是一种红外波段常用的光学玻璃材料，透过波段为1.2-8.0μm，硅具有高热传导率。可以作为多种光学元件的基底，例如透镜、窗口片等，常用于近红外与中红外的应用，也适用于红外成像、太赫兹成像、医疗、军事等应用中。
联合光科提供不镀膜、镀增透膜的硅基底的平面窗口，提供双面增透的IR1（3-5μm）增透膜窗口片。
- 材料 硅单晶
- 透过波前畸变 1λ@633nm
- 平行差 ＜1弧分
- 表面光洁度 40/20-60/40
- 直径误差 +0.0/-0.1mm
- 厚度公差 ±0.1mm
- 倒边 0.2mmX45°
- 镀膜 无
透过波前畸变
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