辐射通道 | |
光源类型 | 配有光机衰减器的卤素灯光源 |
光谱范围 | 350nm到2100nm |
色温 | 2856K±100K在400-1300nm光谱范围 |
探测器焦平面上的亮度范围 | 1μlux到20 000lx (2X1010动态范围) |
调节分辨率 | 1μlux(在低照度范围) |
调节稳定性 | 优于设定值的2% |
可选择的光谱范围 | 16(用户可以选择需要的波长) |
带宽 | 10nm |
标定的光源 | 光度学单元(cd/m2)用于带宽模式,辐射度(W/m2)用于窄带模式,范围依据于被选择的波长 |
成像通道 | |
光源类型 | 一组三个单色LED光源 |
可选择的波长 | 590nm(VIS), 850nm(NIR), 1060nm(SWIR) |
探测器焦平面上的亮度范围 | 光源的标定由W/m2单元但是基本上可以等同于模拟0.1lx到1000lx的2856K色温光源 |
2.靶标:一组不同对比度的USAF1951靶标、刀口靶标、视场靶标、圆孔靶标。
投影系统光谱范围 | 400nm到1100nm |
分辨率 | 至少400lp/mm(在590nm),300lp/mm(在850nm), 200lp/mm(在1060nm) |
3.CON控制器
版本A | Inframet设计生产的特殊控制器用于硅,黑硅或者InGaAs探测器 |
版本B | 多功能的可编程控制器用于控制更为广泛的VIS-SWIR探测器 |
4.一组图像采集卡:不少于两个
类型 | 典型配置:模拟视频及CameraLink |
5.测试软件
电脑软件列表 | DIP控制软件,CON控制软件,VITO测试软件 |
DIP控制软件功能 | 远距离控制光谱选择器(照明器的光谱),辐射通道出口提供辐照,图像投影仪的光谱,成像通道出口提供辐照以及投影靶标类型的确认 |
CON控制软件 | 提供被测试成像探测器必要的控制以及时间输入信号 |
VITO测试软件 | a)采集由被测试的成像探测器生成的视频图像; b)测试成像探测器的参数:相对光谱灵敏度,量子效率,灵敏度,动态范围,线性度,NEI,固定图形噪声,非均匀性,信噪比,坏像素数, 3D噪声,调至传递函数, 分辨率, 最小可分辨对比度, 视场。 |
电源 | 230/110 VAC 50/60 Hz |
尺寸 | 120x66x58 cm |
重量 | 89kg |
InGaAs成像探测器的工作范围在SWIR波段:非制冷类型工作在900nm-1700nm;制冷类型工作在1000nm到约2200nm以及特殊的带宽从600nm到1700nm。
由黑硅材料研制的成像探测器在红外波段(可到1300nm或者更长)具有更高的灵敏度,目前是市场上的新技术。
VIT测试系统是一个可扩展的用于测试硅成像探测器、黑硅成像探测器以及InGaAs成像探测器的测试系统,支持硅/黑硅/InGaAs成像探测器所有重要参数的测试。
VIT测试系统组成 | VIT测试系统测试功能 | ||
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