760450 产品规格书
760450 产品规格书
产品信息
VIT VIS/NIR/SWIR 成像探测器测试系统
产品编号：760450
可见光-短波红外焦平面测试系统
工作范围在可见光、近红外以及短波红外的电子成像探测器生成的二维电子图像在工业、国防、安全、科研、环保、医疗等领域有着重要的应用。工作范围在VIS/NIR波段的成像探测器几乎全部基于硅材料的技术：彩色或者单色制式的CCD、 CMOS. ICCD、EMCCD、EBAPS、sCMOS等。彩色VIS/NIR探测器的工作波段只局限于可见光波段而单色VIS/NIR探测器的工作波段则可以达到1000nm。
InGaAs成像探测器的工作范围在SWIR波段：非制冷类型工作在900nm-1700nm；制冷类型工作在1000nm到约2200nm以及特殊的带宽从600nm到1700nm。
由黑硅材料研制的成像探测器在红外波段（可到1300nm或者更长）具有更高的灵敏度，目前是市场上的新技术。
VIT测试系统是一个可扩展的用于测试硅成像探测器、黑硅成像探测器以及InGaAs成像探测器的测试系统，支持硅/黑硅/InGaAs成像探测器所有重要参数的测试。
InGaAs成像探测器的工作范围在SWIR波段：非制冷类型工作在900nm-1700nm；制冷类型工作在1000nm到约2200nm以及特殊的带宽从600nm到1700nm。
由黑硅材料研制的成像探测器在红外波段（可到1300nm或者更长）具有更高的灵敏度，目前是市场上的新技术。
VIT测试系统是一个可扩展的用于测试硅成像探测器、黑硅成像探测器以及InGaAs成像探测器的测试系统，支持硅/黑硅/InGaAs成像探测器所有重要参数的测试。
| VIT测试系统组成 | VIT测试系统测试功能 | ||
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规格参数
1．双光源投影系统
2．靶标：一组不同对比度的USAF1951靶标、刀口靶标、视场靶标、圆孔靶标。
3．CON控制器
4．一组图像采集卡：不少于两个
5．测试软件
| 辐射通道 | |
| 光源类型 | 配有光机衰减器的卤素灯光源 |
| 光谱范围 | 350nm到2100nm |
| 色温 | 2856K±100K在400-1300nm光谱范围 |
| 探测器焦平面上的亮度范围 | 1μlux到20 000lx (2X1010动态范围) |
| 调节分辨率 | 1μlux（在低照度范围） |
| 调节稳定性 | 优于设定值的2% |
| 可选择的光谱范围 | 16（用户可以选择需要的波长） |
| 带宽 | 10nm |
| 标定的光源 | 光度学单元（cd/m2）用于带宽模式，辐射度(W/m2)用于窄带模式，范围依据于被选择的波长 |
| 成像通道 | |
| 光源类型 | 一组三个单色LED光源 |
| 可选择的波长 | 590nm(VIS), 850nm(NIR), 1060nm(SWIR) |
| 探测器焦平面上的亮度范围 | 光源的标定由W/m2单元但是基本上可以等同于模拟0.1lx到1000lx的2856K色温光源 |
2．靶标：一组不同对比度的USAF1951靶标、刀口靶标、视场靶标、圆孔靶标。
| 投影系统光谱范围 | 400nm到1100nm |
| 分辨率 | 至少400lp/mm（在590nm），300lp/mm(在850nm)， 200lp/mm(在1060nm) |
3．CON控制器
| 版本A | Inframet设计生产的特殊控制器用于硅，黑硅或者InGaAs探测器 |
| 版本B | 多功能的可编程控制器用于控制更为广泛的VIS-SWIR探测器 |
4．一组图像采集卡：不少于两个
| 类型 | 典型配置：模拟视频及CameraLink |
5．测试软件
| 电脑软件列表 | DIP控制软件，CON控制软件，VITO测试软件 |
| DIP控制软件功能 | 远距离控制光谱选择器（照明器的光谱），辐射通道出口提供辐照，图像投影仪的光谱，成像通道出口提供辐照以及投影靶标类型的确认 |
| CON控制软件 | 提供被测试成像探测器必要的控制以及时间输入信号 |
| VITO测试软件 | a)采集由被测试的成像探测器生成的视频图像； b)测试成像探测器的参数：相对光谱灵敏度，量子效率，灵敏度，动态范围，线性度，NEI，固定图形噪声，非均匀性，信噪比，坏像素数， 3D噪声，调至传递函数， 分辨率， 最小可分辨对比度， 视场。 |
| 电源 | 230/110 VAC 50/60 Hz |
| 尺寸 | 120x66x58 cm |
| 重量 | 89kg |