760354 产品规格书
760354 产品规格书
产品信息
LIP 激光指示器/照明器测试系统
产品编号:760354
激光测试系统
LET测试系统用于在实验室环境下对于激光测距机参数的扩展性测试,而不需要必要且频繁的野外测试的时间消耗。LET测试系统既支持测试设计参数与最终性能参数,也支持轴对准测试,第一组测试参数包括脉冲能量,脉冲峰值功率,脉冲宽度,脉冲频率,光束发散角,接收器灵敏度等,第二组测试参数包括测距精度,距离判别,消光比等。轴对准偏差可以理解为发射器光轴与对准轴之间的夹角以及接受器光轴与对准轴之间的夹角。
以上所提到的非常宽的测试范围可以由LET测试系统的双重设计而实现,测试系统可以由以下两种模式工作:电子模拟模式与光纤模拟模式。在第一种模式中,使用先进的电力模块用于测试被测试激光测距机发射器产生的脉冲参数以及产生光脉冲到被测试激光测距机的接收器;在第二种模式中,反射脉冲的模拟使用光纤与高技术标定的衰减器的回路耦合实现。在以上两种工作模式中,当激光测距机处于大气环境下,且用于发射一个角尺寸及衰减可调节的小型目标时,则LTE测试系统可以用于模拟野外测试。
LET测试系统对于需要测试激光测距机设计参数以及生产线及科研工作的团队来说是最优的选择,以及用于确定最终的性能参数。
LET测试系统在LT测试系统系列中是最先进的测试系统,由Inframet设计生产用于支持测试激光测距机以及可选的激光指示器。
以上所提到的非常宽的测试范围可以由LET测试系统的双重设计而实现,测试系统可以由以下两种模式工作:电子模拟模式与光纤模拟模式。在第一种模式中,使用先进的电力模块用于测试被测试激光测距机发射器产生的脉冲参数以及产生光脉冲到被测试激光测距机的接收器;在第二种模式中,反射脉冲的模拟使用光纤与高技术标定的衰减器的回路耦合实现。在以上两种工作模式中,当激光测距机处于大气环境下,且用于发射一个角尺寸及衰减可调节的小型目标时,则LTE测试系统可以用于模拟野外测试。
LET测试系统对于需要测试激光测距机设计参数以及生产线及科研工作的团队来说是最优的选择,以及用于确定最终的性能参数。
LET测试系统在LT测试系统系列中是最先进的测试系统,由Inframet设计生产用于支持测试激光测距机以及可选的激光指示器。
功能
- 两个模块模拟位于不同位置的目标
- 一些由电子模拟测试得到的参数可以由光纤模拟测试进行验证
- 非常宽的测试范围
- 支持测试单脉冲与多脉冲的激光测距机。
- 工作在所有典型波段的激光测距机可以被测试,905/910 nm, 1060nm, 1540nm, 1550nm,1570nm。
- 支持模拟六个不同角尺寸的目标(0.25 mrad 到 4 mrad)。
- 完全计算机控制的测试系统,激光测距机的目标距离,靶标尺寸,系统衰减可以由计算机控制,入射脉冲为数字化的记录并分析。
- LTE测试系统模拟真实野外环境条件。用户看到小的目标并且进行激射,距离测试指示只放激光束照射目标时进行。
- 支持测试匹配有与夜视设备通道的激光测距机。
- 最优化的设计用于测试双通道的配有内部对准通道的激光测距机,同时也支持测试其他类型的激光测距机。
规格参数
COP光功率计基本参数
BIS成像系统基本参数
光谱范围 | 400-1060nm |
有效口径 | 24mm |
被测试功率范围 | 0.001mW - 3W |
被测试功率分辨率 | 0.001mW |
非线性度 | <1% |
操作温度范围 | +10 °C to +35°C |
存储温度范围 | -5°C to +50°C |
尺寸 | 电子表: 220x150x50 mm; 探头: 60x50x70mm |
BIS成像系统基本参数
光谱范围 | 400-1000 nm |
口径 | 46mm |
适用类型 | 适用于测试功率为0.1mW-3W以及发散角为0.25mrad到200mrad |
动态范围 | >106 |
相机1分辨率 | 640x640mm |
相机1视场 | 14 mrad |
相机2分辨率 | 640x640mm |
相机2视场 | 200mrad |
操作温度范围 | +10 °C to +35°C |
存储温度范围 | -5°C to +50°C |
尺寸 | 360x100x200mm |