760103 产品规格书
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产品信息
SAFT系统

产品编号:760103
红外热成像仪测试系统
中波及长波波段的红外热像仪在国家国防及安全部门具有重要的作用,对于红外热像仪的生产商,维修单位,科研院所以及较终用户等而言,红外热像仪的测试具有重要的意义。因此高技术的测试系统可以在生产,维修,培训,选型,科研等方面提供重要的帮助。 

可提供四种测试系统来满足不同的红外热像仪测试需求:
  • DT系统 --- 实验室环境全面测量远距离侦察/科研级别热像仪;
  • SIM系统 --- 实验室环境简单化测量远距离侦察/科研级别热像仪;
  • LAFT 系统 --- 在野外条件下测量远距离侦察热像仪;
  • AFT系统 --- 测量短焦距热像仪;
规格参数
靶轮 黑体
模型 MRW-8 型号 TCB-2D
靶标孔数量 8 模块 TCB-2D黑体头和 CTCB 控制器
控制类型 电动, 数字化 孔径 50× 50 mm
发射率 0.97±0.01 温差范围 -25°C ~ + 75 °C
选项: EXT -40°C ~ +75°C
尺寸 380× 350×100 mm 绝对温度范围 0°C ~ +100°C
重量 5 kg 扩展温度范围 -15°C ~ +100°C;
低温范围 -40°C ~ + 75°C
靶标 最佳分辩率 SAFT-A: 0.01°C
SAFT-B: 0.001°C
型号 M44 发射率 0.97±0.01 (0.99 at HE option)
有效面积 直径44 mm 温度均匀性 < 0.01 °C 当DT< 5°C
发射率 0.97±0.01 相应时间 10°C step – 60s
类型 4-bar, 针孔, 狭缝, 刀口 稳定性 ±0.003°C 当△T=10°C
屏蔽箱 十字 计算机控制 RS-232
模型 ARC 500 功率供给 220VAC 50/60Hz
长度 500mm 操作温度 +5°C ~ +45 °C
口径 80mm 体积 120×270×190mm;
控制器 300× 270×190 mm
联合光科技(北京)有限公司 · 一站式光学器件现货供应商
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