750117 产品规格书
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产品信息
WaveMaster® LAB Horizontal大口径研发型波前测量仪

产品编号:750117
产品描述
全欧光学WaveMaster波前测量仪用于球面透镜,非球面透镜和光学系统的波前测量,集成了准直系统,扩束或缩束系统,高精度样品台,多种光源和WaveSensor波前传感器。此传感器采用夏克-哈特曼传感器原理,用于平面、球面、非球面面型的检测,光学系统像差检测,输出激光光束质量检测,光束动态变化检测,自适应系统波前的探测,并有针对大口径光学和人工晶体波前检测的解决方案。
WaveMaster波前测量仪主要用来测量大型双远心镜头的全场波前,还可给出被测样品的面型(PV和RMS),泽尼克系数(Zernike),点扩散函数(PSF),调制传递函数,斯特列尔比,楔角。同时,该产品也可用于人工晶体在空气中或原位中的检测,晶体低阶和高阶的相差,晶体的调制传递函数(MTF),晶体的点扩散函数(PSF),晶体屈光度和像差。软件具有多种模块功能,简单易用,用户可根据需要进行选择。
WaveMaster® LAB Horizontal是一款非常适合在实验室里应用的仪器。它作为一个实验装置台,使用灵活,可使不同的光学结构放置在同一水平方向测量。它可提供透射式无限轭或有限轭模式进行测量,适用于口径较大的样品。


应用范围:

  • 适用于实验室内大口径精密镜头或镜片的波前测量。
规格参数
产品编号 750117
测量项目 波前质量,泽尼克系数等
测量波长 532nm(其它要求可定制)
波前传感器 WaveSensor® 150(编号:750110)
阵列透镜数量 138×138
波前测量精度 优于<λ/20(RMS)
波前测量重复性 优于<λ/200(RMS)
动态范围 2000λ
数值孔径 0.55(其它要求可定制)
被测样品直径 最大96mm(按客户要求定制)
被测样品焦距 按客户要求定制
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