电光Q开关.jpg)
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| 产品编号 | 750117 |
| 测量项目 | 波前质量，泽尼克系数等 |
| 测量波长 | 532nm（其它要求可定制） |
| 波前传感器 | WaveSensor® 150（编号：750110） |
| 阵列透镜数量 | 138×138 |
| 波前测量精度 | 优于<λ/20（RMS） |
| 波前测量重复性 | 优于<λ/200（RMS） |
| 动态范围 | 2000λ |
| 数值孔径 | 0.55（其它要求可定制） |
| 被测样品直径 | 最大96mm（按客户要求定制） |
| 被测样品焦距 | 按客户要求定制 |
全欧光学WaveMaster波前测量仪用于球面透镜，非球面透镜和光学系统的波前测量，集成了准直系统，扩束或缩束系统，高精度样品台，多种光源和WaveSensor波前传感器。此传感器采用夏克-哈特曼传感器原理，用于平面、球面、非球面面型的检测，光学系统像差检测，输出激光光束质量检测，光束动态变化检测，自适应系统波前的探测，并有针对大口径光学和人工晶体波前检测的解决方案。
WaveMaster波前测量仪主要用来测量大型双远心镜头的全场波前，还可给出被测样品的面型（PV和RMS），泽尼克系数（Zernike），点扩散函数（PSF），调制传递函数，斯特列尔比，楔角。同时，该产品也可用于人工晶体在空气中或原位中的检测，晶体低阶和高阶的相差，晶体的调制传递函数（MTF），晶体的点扩散函数（PSF），晶体屈光度和像差。软件具有多种模块功能，简单易用，用户可根据需要进行选择。
WaveMaster® LAB Horizontal是一款非常适合在实验室里应用的仪器。它作为一个实验装置台，使用灵活，可使不同的光学结构放置在同一水平方向测量。它可提供透射式无限轭或有限轭模式进行测量，适用于口径较大的样品。
WaveMaster波前测量仪主要用来测量大型双远心镜头的全场波前，还可给出被测样品的面型（PV和RMS），泽尼克系数（Zernike），点扩散函数（PSF），调制传递函数，斯特列尔比，楔角。同时，该产品也可用于人工晶体在空气中或原位中的检测，晶体低阶和高阶的相差，晶体的调制传递函数（MTF），晶体的点扩散函数（PSF），晶体屈光度和像差。软件具有多种模块功能，简单易用，用户可根据需要进行选择。
WaveMaster® LAB Horizontal是一款非常适合在实验室里应用的仪器。它作为一个实验装置台，使用灵活，可使不同的光学结构放置在同一水平方向测量。它可提供透射式无限轭或有限轭模式进行测量，适用于口径较大的样品。
应用范围：
- 适用于实验室内大口径精密镜头或镜片的波前测量。
