WaveMaster® COMPACT Reflex 紧凑型波前测量仪

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产品编号 750115
产品型号 WaveMaster® COMPACT Reflex
测量范围 镜片、镜头的表面面型
测量模式 反射式
精度指标

微透镜阵列:138×138

表面面形测量精度:<0.050 µm (RMS)

表面面形测量重复性:<0.005 µm (RMS)

表面面形动态范围:> 200 µm

最大非球面度:≤7°

测量频率:12Hz

传感器类型 WaveSensor 150
样品口径 0.5mm…18mm
样品焦距 ——
样品半径 -50 mm…30mm
光源 635nm
样品夹持器 单孔位,手动调节
WaveMaster® COMPACT系列产品可以简单快速的完成对球面或非球面镜片波前质量的检测,并运用泽尼克多项式实时分析波前数据,在生产和研发上都有着广泛应用。WaveMaster® COMPACT2 Universal是专业级的波前测量仪,集成了WaveMaster® COMPACT2和WaveMaster® COMPACT2 Reflex所有功能。

应用范围:
  • 各种球面或非球面镜片光学波前面和镜片或镜头的表面面形的检测。

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